Basler SWIR視覺解決方案，讓不可見的細(xì)節(jié)盡在眼前

多年來(lái)，工業(yè)相機(jī)主要專注于可見光成像技術(shù)。短波紅外相機(jī)，簡(jiǎn)稱SWIR相機(jī)，可顯露隱藏的特征。但想要找到既具有成本效益，又能為工業(yè)應(yīng)用量身定制的SWIR成像解決方案也并非易事。

今天，我們來(lái)為您介紹Basler SWIR相機(jī)解決方案，以及它所帶來(lái)的成像潛能。

什么是SWIR光譜？

光是一種電磁波，以其波長(zhǎng)為特征, 光譜可分為多個(gè)光譜帶。可見光范圍是400nm至800nm，近紅外和短波紅外光范圍是從900nm到最高可達(dá)2500nm，并且人眼不可見。Basler新款ace 2 X visSWIR相機(jī)，搭載Sony SenSWIR感光芯片，可覆蓋400nm至1700nm的可見光和不可見光范圍。

適用于機(jī)器視覺的SWIR相機(jī)，利用SWIR的物理特性，可以實(shí)現(xiàn)新的成像場(chǎng)景。通過(guò)列舉幾個(gè)經(jīng)典的機(jī)器視覺應(yīng)用案例，我們一起來(lái)了解SWIR相機(jī)的亮點(diǎn)。

1.在SWIR范圍內(nèi)，硅會(huì)變得透明，因此，檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓和太陽(yáng)能電池板是其重要的應(yīng)用領(lǐng)域。使用SWIR光源照亮硅基晶圓或太陽(yáng)能電池板，可顯露隱藏在表面下的微小缺陷和雜質(zhì)。

2.通常，SWIR可以穿透在可見光波長(zhǎng)下不透明的涂層，這樣就能對(duì)底層特征可視化，例如查看液位水平，可區(qū)分顏色相似的不同材料。因此，非常適合對(duì)材料進(jìn)行無(wú)損識(shí)別和分揀。

3.在SWIR范圍內(nèi)，水具有很高的吸收性，這使得含水量高的物體或特征看起來(lái)幾乎為黑色，因此將此項(xiàng)方案應(yīng)用于水分檢測(cè)，可以助力食品質(zhì)量的控制。

以上是一些經(jīng)典的例子，這項(xiàng)技術(shù)為工業(yè)應(yīng)用帶來(lái)了無(wú)限的可能性。

為什么要選擇Basler SWIR視覺解決方案？

Basler積累了獨(dú)特的視覺專業(yè)知識(shí)，使Sony感光芯片技術(shù)大放異彩，為經(jīng)濟(jì)高效的SWIR成像解決方案提供了完美的切入點(diǎn)

。

我們還可以一站式提供所有組件，與傳統(tǒng)的SWIR相機(jī)相比，ace 2 X相機(jī)要小巧得多，截面尺寸僅為29 x 29 mm，備受市場(chǎng)認(rèn)可。

同時(shí)，這款相機(jī)提供GigE和USB 3.0接口，以滿足不同的應(yīng)用要求，ace 2 X相機(jī)與Basler SWIR光源和控制光源的Basler SLP控制器，是理想的套裝組合。

為了獲得出色的成像效果，應(yīng)使用濾光片來(lái)屏蔽不需要的光譜部分，InGaAs芯片的主要局限性在于它不可避免地存在像素缺陷和高噪聲等級(jí)的問(wèn)題，Basler相機(jī)內(nèi)置獨(dú)特的Pixel Correction Beyond像素校正超越功能可增強(qiáng)SWIR圖像。Beyond像素校正超越功能可輕松檢測(cè)并最大限度地降低線性噪聲，還能動(dòng)態(tài)減少圖像中的水平線。

通過(guò)Basler的解決方案，僅需非制冷型相機(jī)的價(jià)格，您就能獲得成像質(zhì)量可媲美制冷型相機(jī)且尺寸精巧的ace 2 X相機(jī)。

最后，您可以借助簡(jiǎn)單易用的pylon軟件，盡情探索以上的特點(diǎn)以及其他相機(jī)功能，并直接通過(guò)相機(jī)采集出色的SWIR圖像，獲取卓越成效。